高階設備建立技術護城河
創業初期刻意選擇最昂貴的穿透式電子顯微鏡 (TEM)，藉由資本與技術高門檻防止競爭者輕易進入。
這部在講什麼訪談
專訪閎康科技董事長謝詠芬，解析材料分析在 AI 晶片、2 奈米製程及矽光子技術中的關鍵角色，並分享高門檻創業的經營智慧。
論點怎麼成立
主張與佐證意義優先，時間戳用來導航
五大分析領域的邏輯鏈結
從可靠度測試發現失效，透過故障分析定位，最後利用材料、表面與化學分析找出奈米級結構或成分異常。
先進製程結構演進的觀測挑戰
隨製程從 FinFET 進入 2 奈米的 GAA 結構，必須依賴奈米級解析度的 TEM 才能確保閘極環繞結構的開發良率。
矽光子檢測是電與光的混合挑戰
矽光子不只是測電壓電流，還需處理波長、相位偏移與眼圖分布，且混合測試架構需為客戶量身訂做。
全球佈局應對半導體在地化
配合各國追求半導體自主化，閎康在日本（名古屋、熊本、北海道）與中國快速擴增實驗室以就近服務。
第三方分析的資安中立性
僅針對樣品產出結構影像與數據，不詢問也不碰觸客戶的製程配方，從源頭杜絕洩密疑慮。
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看完可以做什麼
關注半導體設備與檢測服務在 2 奈米 GAA 製程轉換期的需求爆發機會。需要留意：矽光子測試目前缺乏統一規格，高度依賴客製化架構，將增加檢測設備的研發與維護成本。
生成於 2026-07-11
檢舉
觀眾怎麼看
整理 24 則有效留言信心 高觀眾高度肯定謝詠芬董事長的專業與遠見，並針對閎康的技術護城河、中國市場佈局及產業競爭展開熱烈討論。
多數觀眾讚賞謝董事長口齒清晰、思路敏捷，具備卓越的創業智慧與企業經營遠見。
部分觀眾擔憂閎康赴陸設廠可能面臨技術外流或遭當地政府兼併的政治與商業風險。
觀眾好奇閎康是否具備自研檢測儀器能力，並討論材料分析技術是否容易被競爭對手複製。
有觀眾指出若過度強調資安而簡化分析流程，可能導致專業性下降，影響故障分析的準確度。
觀眾提及對半導體檢測產業的競爭格局看法，並有部分留言涉及對特定競爭對手或市場趨勢的討論。
留言包含大量政治立場與情緒性發言，僅整理與公司經營及技術相關之觀點。